國立臺灣師範大學物理學系藍彥文教授研究團隊，攜手臺師大物理系博士班校友、國立臺灣大學物理學系邱雅萍教授團隊，以及新加坡國立大學暨臺師大物理學系玉山學者訪問客座教授李連忠（Lain-Jong Li）教授共同合作，成功突破二維半導體電晶體接觸工程的重要瓶頸，首次直接量測二維半導體電晶體中電子的轉移長度（Carrier Transfer Length），為未來奈米尺度電晶體設計提供關鍵實驗依據。研究成果已於2026年7月1日發表於國際頂尖期刊《Nature》，展現師大在二維半導體元件、先進量測技術與跨國研究合作上的卓越實力。
隨著人工智慧、高效能運算及低功耗晶片需求快速成長，電晶體持續微縮已成為全球半導體技術的重要挑戰。近年來，具有原子級厚度的二維半導體被視為延續摩爾定律的重要候選材料。然而，除了縮短通道長度之外，金屬與半導體接觸界面的電子注入效率更直接影響元件效能，也是未來微縮能否成功的關鍵。
藍彥文教授表示，研究團隊長期投入二維半導體電子元件與接觸工程研究，此次由師大團隊負責高品質二維半導體電晶體的元件設計、製作與電性量測分析；李連忠教授團隊提供高品質二維材料成長技術；邱雅萍教授團隊則發展全球首創的臨場剖面掃描穿隧顯微術（Operando Cross-sectional STM）。三個團隊共同提出研究構想，整合材料成長、元件製作、電性分析及原子尺度量測等專長，建立完整的跨領域研究平台。
