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【公共事務中心胡世澤報導】國立臺灣師範大學物理學系邱雅萍副教授及英語學系路愷宜Ioana Luca副教授，分別榮獲中央研究院年輕學者研究獎，僅次於中央研究院7人得獎，師大也是各大學中得獎人數最多的學校，今年頒獎典禮於6月2日在中研院舉行，由翁啟惠院長頒獎表揚兩位副教授，陳建仁副院長、王汎森副院長及王瑜副院長亦出席與會。
中央研究院自1996年起頒授「年輕學者研究著作獎」，以獎勵國內年輕學者深入思考，從事前瞻性與創新性的研究，並發表優秀著作。連續20年來這項甚具激勵作用的獎項，已為國內外培育出許多傑出研究人員，充分彰顯其學術意義。
今年共計16位來自不同領域且有傑出研究成果的得獎者，每位可獲頒獎金新臺幣20萬元、研究獎助費新臺幣30萬元，以及獎牌一面。頒獎典禮中每位得獎者並以5分鐘簡介其著作。這屆共有121件申請案：數理科學組53件、生命科學組29件、人文及社會科學組39件。申請案件皆經過各分組預審、初審、複審程序，再送三組聯席審查委員會討論，才決議得獎名單。
邱雅萍博士在數理科學組得獎，其著作主要在於瞭解異質介面微觀的結構與能帶的變化，而所用的技術為剖面式掃瞄探針穿隧顯微術(XSTM)。其 XSTM 核心技術的發展及介面科學相關領域研究論文的發表，在世界上都趨於領先地位。邱博士對 XSTM 的貢獻為將其應用於更複雜且具應用潛力的異質介面如分子光伏材料，氧化物異質介面，奈米線內二極介面等。
這些研究具有挑戰性。代表作發表於 Physical Review Letters 109 (2012): 246807，得到的主要結果為跨越異質介面的價帶能帶變化，並同時得到奈米尺度的解析度。其重要性在於定量分析了此類介面的電子電洞能障，因此對巨觀電性量測提供了微觀的基礎。相關研究成果包括：一、有機與無機異質結構太陽能電池之介面研究[Nano Letters 13 (2013):2387]；二、矽奈米線之 P-N 介面電子結構研究[ACS Nano 8 (2014): 8357]。這些研究成果展現出 X-STM 在（奈米級）局域性精細分析的龐大潛力，對當今同質或異質磊晶的薄膜系統以及奈米結構相關的介面科學之學術貢獻。
總而言之，邱博士是在臺灣完成學業，極具發展潛力的優秀年輕女性科學家，有機會成為國際上｢介面科學｣領域的著名學者，成為一個成功的典範。
路愷宜博士(Ioana Luca)在人文及社會科學組獲獎，她自羅馬尼亞獲得博士學位之後即來臺任教，教學與研究成績斐然，曾經獲得國科會吳大猷獎，主要研究領域為生命書寫／自傳文學、美國研究、美國文學、文化研究、跨國主義與記憶研究，近五年共發表期刊論文七篇，專書論文四篇，並參與合編國際期刊 European Journal of Life Writing 之 Life Writing Trajectories in Post-1989 Eastern Europe 專號，是一位極為認真與活躍的年輕學者。路博士利用其東歐出身的利基，經由東歐獨特的歷史脈絡切入美國研究領域，援引前沿的文學理論，對文學文本、電影文本進行深入詮釋，研究取徑靈活，研究題材廣泛，對於自傳文學，文化研究，美國研究都有開拓性的貢獻，論文也屢屢刊登於國際知名期刊，足以獲頒本屆中央研究院年輕學者研究著作獎之殊榮。
邱雅萍副教授10年前畢業於師大物理系博士班，研究專長為材料科學、表面和介面科學、掃描穿隧顯微鏡，她很感謝中研院物理所及原分所在博士生及博士後，對她在表面科學領域上的專業指導，也感謝師大物理系師生支持她的相關研究。
關於得獎著作，主要介紹精進剖面穿隧式掃描顯微鏡(XSTM, Cross-sectional STM)之量測技術，進而探討新穎奈米材料之介面科學。對於當今最新穎之異質磊晶材料提供最直接、最局域性及最精細的介面科學(Hetero-interface Science)，是這份代表作之核心要點。
近年來，透過和新穎材料製程實驗室之間的合作，利用剖面掃描穿隧顯微鏡(XSTM)具有獲得原子級的空間解析度及量測區域性電子特性的功能，擴展並運用此技術，異質磊晶物質中的介面科學之結構形貌及電性量測得以真實且直接被記錄並完成觀察。這項量測技術已成功應用在不同新穎奈米材料領域。研究成果包括探討氧化物及半導體間的介面科學---金屬氧化物半導體電晶體中氧化物Gd2O3 成長在半導體GaAs (100)間之介面物理探討 [Appl. Phys. Lett. 99, 212101 (2011)]；複合氧化物材料介面科學---探討N型LaAlO3/TiO2-SrTiO3異質結構的介面電子特性 [Phys. Rev. Lett. 109, 246807 (2012)]；有機高分子聚合物太陽能電池材料薄膜介面科學---利用穿隧式掃描顯微鏡量測太陽能電池材料 P3HT 與 PCBM 之間的介面特性 [Nano Letters, 13, 2387 (2013)]，以及異質P-N矽奈米線介面科學---利用穿隧式掃描顯微鏡量測異質P-N矽奈米線之截面特性 [ACS Nano 8, 8357(2014)]。
這些代表作的研究成果都是在台灣當地取得。利用剖面掃描探測技術，並且擴展其量測技術於異質磊晶結構，探討電子特性如何從不同物質間演變，描繪出原子級精細的異質結構間介面處之能帶結構圖。
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