近幾週來，臺北市教育局多次透過公開場合或媒體，對本中心為教育部所設計的國中教育會考之等級、標示、和量尺等，提出批評，內容涉及量尺分數的誤用與扭曲，為避免外界混淆，特此澄清說明。

一、量尺分數的設計乃為避免104年免試入學增額及抽籤

教育會考的主要功能為學力監控，但在十二年國教的實施初期，會考被冀望能額外達成「安定入學」之階段性目標。在作法上，會考的成績呈現除了原有的三等級又增加了四標示(A++, A+,B++與B+)，此舉一來仍維持弱化分分計較現象之功能，二來也可減少升學競爭激烈考區在進行入學分發工作時，因過多學生在五學科皆為相同等級所衍生的超額比序問題，進而讓家長與學生對免試入學制度感到安心與穩定。

103年教育會考成績採「三等級四標示」報告，大致上已能滿足各招生區超額比序的需求，並未出現大量同分者而需抽籤的情況，即使是競爭最激烈的基北區。從103年一免放榜結果來看，在基北區中需要增額錄取的學校多為高職，以臺北市南港高工汽車科增額錄取9人為最多；在高中部分，則以臺北市成功高中的增額錄取人數3人為最多，顯見增加四標示之措施已經有效降低增額錄取之問題。會考三等級四標示的設計，已經證明其正確性與可用性。

由於104年基北區將調整志願序計分方式，在此種情況下，我們預期少部分競爭激烈的學校或科系可能會出現較嚴重的超額比序問題。為使104免試入學分發作業順利，經過綜整、比較各種計分方案後，臺師大心測中心建議104年之國文、英語、數學、社會和自然的教育會考成績報告的「三等級四標示」制外，再增加量尺分數。增加的量尺分數計分設計與過去基測有所不同，方式如下：將平均答對題數的量尺分數設定為3分，高於平均數者依其相對表現計以4~10分，答對題數低於平均數者，依其相對表現計以1~2分。量尺分數沒有對全體考生做區分，僅針對各科約基礎能力等級以上考生區分，除避免流於題題計較的情形，也預設免試超額比序使用量尺分數的條件是在所有可用於鑑別學生之項目皆無效時才列入。量尺分數，只有在「比無可比、用無可用」的情況下才使用的原則已由教育部在103年8月30日記者會及新聞稿中明白宣示。

二、先比量尺總積分可能產生的問題

量尺分數主要用途在輔助特殊情況的比序，若基北區將量尺總分放在超額比序第四順次，或跳過103年所使用的其他可比序項目直接比量尺總積分，將在入學技術面和教改理念面產生不良影響。

在技術面上，基北區所提出的作法，造成以等級和標示為計分基準的結果大幅異動。此舉將造成學生和家長不安。基北區只要將量尺總分放置在103年所有「三等級四標示」相關的比序順次之後，一樣可以達到避免增額過多或抽籤的目標，不需在技術上做太大的變動。

在教改理念面上，量尺原本是只影響到少數學生的輔助計分方式，由於提前使用，將讓大多數原本不會用到的學生受到不必要的影響與壓力，使得教育政策改革往倒退的方向走。若基北區堅持將會考量尺總分放在超額比序第四順次，此舉將破壞12年國教適性入學理想，可能讓整個制度與政策回到過去基測題題、分分計較的情況，讓這幾年的努力白費，改革回到原點。

目前的「三等級四標示」及十級分量尺分數屬於兩套不同計分原理，若回歸到原來的設計初衷，先比等級、再比標示、最後比無可比再採計量尺分數，就不會產生兩套系統競合的問題。

本中心於10月下旬起協助基北區，針對「104學年度基北區免試入學作業要點」之超額比序順次的各種研擬方案，提供103年實際模擬分析資料給臺北市政府教育局作為調整比序順次的參考。並於多次會議中說明量尺分數設計的初衷，同時提醒誤用量尺分數可能發生的問題。

三、臺北市身為首善之都，對於教育改革應更有遠見

十二年國教改革的重要精神之一，就是讓學生可以多元入學，多元發展。我們的國中生應該盡早脫離分分計較的魔咒，回歸正常的學習模式。採用三等級四標示，正是最好的作法。而目前本中心所制訂的十級分量尺，乃為解決超額比序的過渡性措施，預期將逐步撤除以減低各就學區對量尺分數的依賴。

教育改革不可能一蹴可及，值此教改陣痛期，經過二至三年的發展，待各就學區調整確認志願序計分機制、高中職均優質化等免試入學的其他配套環節也發展成熟後，能讓會考回到原始的定位，發揮學力監控的功能，進而達到維護公平、正義及提升基本學力（補救教學）的雙贏終極目標。臺北市身為首善之都，更有責任配合中央，教育民眾正確教育理念，帶領全國其他各縣市一起努力完成對於教育改革大業，實不宜因為執著於不必要的技術細節而導致十二年國教的進展遭受阻礙。

四、若臺北市質疑量尺分數有問題，建議可以不用

由於基北區為全國競爭最激烈之就學區之一，本中心多年來投注相當多心力來解決免試入學超額比序的各項問題。基於臺北市教育局在會議或媒體一再質疑本中心規劃十級分量尺分數的設計與使用方式，為維護本中心專業形象，除重申量尺分數適當使用的重要性外，建議臺北市教育局若質疑教育會考量尺分數有問題，104年超額比序可以不使用。

資料來源：心理與教育測驗研究發展中心